
随着高速通讯技术的演进,磁性组件在 LAN、Balun、PoE 等应用中的性能要求日益严苛。尤其在 GHz 级频率下,组件的插入损耗、回波损耗与共模抑制比(CMRR)等参数,对系统稳定性与讯号完整性有决定性影响。
然而,这些参数的准确性,往往取决于测试校正方法的选择与执行。本文将深入探讨各种 VNA 校正技术的原理、差异与适用情境,并以等效电路模型分析其对 LAN/Balun 测试结果的影响,最后分享 LinkCom 的实务汇整策略。
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